ドイツOptoSurf社にて開発された光学式表面測定機 OS 500を搭載。測定面に照射したLEDスポット光の散乱角分布解析により、ウェハの粗さ・反り・うねりを高速・非接触で計測可能。
- インライン全面検査を可能とする計測スピード
- 非接触計測により検査時のキズ、へこみを防止
- 自動合否判定プログラムによる検査の省人化を実現
非接触(散乱光方式)で
ウェハの粗さ・反り・うねりを高速で評価可能
ドイツOptoSurf社にて開発された光学式表面測定機 OS 500を搭載。測定面に照射したLEDスポット光の散乱角分布解析により、ウェハの粗さ・反り・うねりを高速・非接触で計測可能。
測定方法 | 非接触LED散乱光方式 |
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光源 | LED 670nm(Φ0.9mm) ※オプションLD(Φ0.03mm) |
データ速度 | 2000/s |
ウェハサイズ | 最大 300mm |
スループット | 30~60秒(条件による) ※ウェハサイズ300mm 光源 Φ0.9mm |
インターフェイス | SECCS/GEM |
寸法 | L700×W700×H1800mm |
重量 | 約100kg |
Ra計測範囲※ | 0.5nm-200nm |
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校正標準 | <Ra 0.5nm |
MSA TEST (Type1) |
cg>1.33 |
測定角度 | -12°…+12° |
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範囲※※ | (0.01μm-4mm) |
うねり | 最小 1nm 方位分解能 < 60μm |
※ Ra値は、高精度トポグラフィー測定システムとの相関測定に
基づいています。
※※ 4mmは、基準長さ20mmに対し4mmの高さを意味します
(局所的測定角度11°)