ドイツOptoSurf社にて開発された光学式表面測定機 OS 500を搭載。測定面に照射したLEDスポット光の散乱角分布解析により、ウェハの粗さ・反り・うねりを高速・非接触で計測可能。
- インライン全面検査を可能とする計測スピード
- 非接触計測により検査時のキズ、へこみを防止
- 自動合否判定プログラムによる検査の省人化を実現

非接触(散乱光方式)で
ウェハの粗さ・反り・うねりを高速で評価可能
 
								ドイツOptoSurf社にて開発された光学式表面測定機 OS 500を搭載。測定面に照射したLEDスポット光の散乱角分布解析により、ウェハの粗さ・反り・うねりを高速・非接触で計測可能。
 
								 
							| 測定方法 | 非接触LED散乱光方式 | 
|---|---|
| 光源 | LED 670nm(Φ0.9mm) ※オプションLD(Φ0.03mm) | 
| データ速度 | 2000/s | 
| ウェハサイズ | 最大 300mm | 
| スループット | 30~60秒(条件による) ※ウェハサイズ300mm 光源 Φ0.9mm | 
| インターフェイス | SECCS/GEM | 
| 寸法 | L700×W700×H1800mm | 
| 重量 | 約100kg | 
| Ra計測範囲※ | 0.5nm-200nm | 
|---|---|
| 校正標準 | <Ra 0.5nm | 
| MSA TEST (Type1) | cg>1.33 | 
| 測定角度 | -12°…+12° | 
|---|---|
| 範囲※※ | (0.01μm-4mm) | 
| うねり | 最小 1nm 方位分解能 < 60μm | 
※ Ra値は、高精度トポグラフィー測定システムとの相関測定に
                                    基づいています。
                                    ※※ 4mmは、基準長さ20mmに対し4mmの高さを意味します
                                    (局所的測定角度11°)