非接触(散乱光方式)で
ウェハの粗さ・反り・うねりを高速で評価可能

装置概要と特徴

装置概要と特徴

ドイツOptoSurf社にて開発された光学式表面測定機 OS 500を搭載。測定面に照射したLEDスポット光の散乱角分布解析により、ウェハの粗さ・反り・うねりを高速・非接触で計測可能。

  • インライン全面検査を可能とする計測スピード
  • 非接触計測により検査時のキズ、へこみを防止
  • 自動合否判定プログラムによる検査の省人化を実現

検査事例

検査事例

仕様

仕様
装置本体
測定方法 非接触LED散乱光方式
光源 LED 670nm(Φ0.9mm)
※オプションLD(Φ0.03mm)
データ速度 2000/s
ウェハサイズ 最大 300mm
スループット 30~60秒(条件による)
※ウェハサイズ300mm
光源 Φ0.9mm
インターフェイス SECCS/GEM
寸法 L700×W700×H1800mm
重量 約100kg
粗さ測定性能
Ra計測範囲 0.5nm-200nm
校正標準 <Ra 0.5nm
MSA TEST
(Type1)
cg>1.33
形状測定性能
測定角度 -12°…+12°
範囲※※ (0.01μm-4mm)
うねり 最小 1nm
方位分解能 < 60μm

Ra値は、高精度トポグラフィー測定システムとの相関測定に
基づいています。
※※ 4mmは、基準長さ20mmに対し4mmの高さを意味します
(局所的測定角度11°)

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