欠陥検査
（内部・表面微細欠陥）

ハロゲンランプにより、材料を周期的に加熱～冷却します。
加熱中は材料が熱エネルギーを吸収し、冷却サイクルへ移行と共に、自己エネルギー放射へ切り替わります。

この時、健全部と欠陥部（接着不良や剥離など）の放射エネルギー強度と熱伝導時間等の均衡が崩れている為、熱伝導状態を観測することにより内部欠陥等を可視化できます。樹脂材料等の自動欠陥検査等に適用可能です。